ELE 517 Yarıiletken
Elemanların ve Düzenlerin Modellenmesi
Dersin Kodu
|
ELE517 |
Adı |
Yarıiletken
Elemanların ve Düzenlerin Modellenmesi |
İngilizce
Adı |
Modeling of Semiconductor
Components and Devices |
Dili |
Türkçe |
Türü |
Zorunlu |
Lisansüstü
Türü |
Yüksek Lisans |
Kredisi |
3 |
Yarıyılı |
Güz |
Önkoşulu |
|
Programı |
Elektronik
Mühendisliği |
Anabilim
Dalı |
Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği ABD |
Amacı |
|
Bu derste, bilgisayarla benzetime yönelik olarak temel
elektronik elemanların ve tümdevre yapılarının
doğrusal olmayan modelleri, işlemsel kuvvetlendirici, işlemsel geçiş
iletkenliği kuvvetlendiricisi, akım taşıyıcı ve analog çarpma devresi gibi analog işlem bloklarının makromodelleri
konusundaki eksikliğini gidermek, bu yönde araştırmacı potansiyelini
yükseltmek amaçlanmaktadır. |
|
Türkçe
İçeriği |
|
Modelleme kavramı. Eleman modelleri: Diyot modelleri. Bipolar tranzistor modelleri: EM
(Ebers- Moll) 1 modeli,
EM2 modeli, EM3 modeli, Gummel-Poon
modeli, SPICE Gummel-Poon
modeli, geliştirilmiş EM modeli. MOSFET modelleri: SPICE 1. düzey, 2. düzey,
3. düzey MOS modelleri. Yüksek doğruluklu MOSFET modeli. BSIM MOS Modelleri. Makromodeller: İşlemsel kuvvetlendirici, Gerilim
karşılaştırıcı, İşlemsel geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi (OTA), akım
taşıyıcı, analog çarpma devresi makromodelleri.
Güç elektroniği elemanlarının modellenmesi. Model parametrelerinin ölçülmesi. |
|
İngilizce
İçeriği |
|
Modeling concept. Modeling of the junction diode: Static and dynamic
parameters. SPICE diode
model. Modelling of the
BJT. Ebers-Moll equations; EM1 EM2 and EM3 models, Gummel-Poon model, SPICE BJT model. Modified
EM model. MOSFET models: SPICE Level-1,
Level-2, Level-3 models, MOSFET models with extended accuracy. BSIM MOSFET models. Macromodels: Op-Amp., Comparator,
operational transconductance amplifier
(OTA), Current Conveyor, Analog Multiplier Macromodels. Measurement of
model parameters. |
|
Kaynakçası |
|
1.H. Kuntman, Elektronik Elemanların Modellenmesi, İTÜ
Kütüphanesi, Sayı 1600, 1998. 4. P. Antognetti, G. Massobrio, Semiconductor device
modeling with SPICE, Mc Graw Hill,
1988. |
2013-2014 Eğitim-Öğretim Yılı
Çarşamba, 13:30-16:30,
Mustafa Santur Seminer Odası
Öğrenci
Listesi (22.09.2013)
Seminer
Konuları (8.10.2013)
Seminer
Programı (22.10.2013)
Yıl
Sonu Başarı Durumu ( 9 Ocak 2014)
Önemli Not: Listedeki
notlar bilgi amacıyla
verilmiştir.
NOTLAR:
Yıliçi Sınavı 20 Kasım 2013, 13:30-15:00,
(pdf)
Dönem Ödevi 18 Aralık 2013, (pdf)
Önemli Not: Ödevler 9 Ocak 2014 Perşembe günü saat 12:00’a kadar teslim edecektir. Otomasyondaki
sınırlama nedeniyle bu sürenin uzatılması mümkün değildir.
Ödevler:
Ödev 1 (pdf),
25.09.2013
Ödev 2 (pdf), BJT
ölçüm verileri (pdf), 23.10.2013
Ödev 3 (pdf),
13.11.2013
Ödev 4 (pdf), ölçüm
verileri (pdf), 04.12.2013
Ders projeksiyon cihazı yardımıyla kaynak kitaptan yararlanılarak
yürütülecektir. Kaynaklar listesinde ilk sırada yer alan kitabın öğrencilerin
elinde bulunması, dersin kolayca izlenebilmesi açısından yararlı olacaktır.
Not: Kitabın derste kullanılacak bölümlerini, bu sayfada altta verilen
linkleri tıklayarak indirebilirsiniz.
Dersi alacak öğrencilerin SPICE benzetim programını kullanmayı
bilmeleri veya öğrenmeleri gerekmektedir.
BAŞARI: YILİÇİ SINAVI (%15), SEMİNER (%15), ÖDEVLER
(%20), DÖNEM PROJESİ (%50)
Yıl sonu sınavı
ve bütünleme sınavı yoktur. Başarı Yıl içi çalışmalarla belirlenecektir.
İçerik, Kaynaklar, Sınavlar (04.09.2013)
H. Kuntman, Elektronik Elemanların Modellenmesi, İTÜ
Kütüphanesi, Sayı 1600, 1998. Kitap
Bölümleri (pdf):
Bölüm 3, 3.1-3.26 (pdf)
(18.09.2008)
Bölüm 3, 3.27-3.46 (pdf) (18.09.2008)
Bölüm 3, 3.47-3.75 (pdf) (18.09.2008)
Bölüm 3, 3.76-3.91 (pdf)
(18.09.2008)
Bölüm 3, 3.92-3.125 (pdf) (18.09.2008)
Bölüm 3, 3.126-3.144 (pdf)
(18.09.2008)
Bölüm 5, 5.1-5.48 (pdf) (18.09.2008)
Bölüm 6, 6.1-6.26 (pdf) (21.09.2008)
Bölüm 6, 6.27-6.34 (pdf)
(21.09.2008)
Bölüm 6, 6.35-6.46 (pdf)
(21.09.2008)