ELE 517 Yarıiletken
Elemanların ve Düzenlerin Modellenmesi
Dersin Kodu
|
ELE517 |
Adı |
Yarıiletken
Elemanların ve Düzenlerin Modellenmesi |
İngilizce
Adı |
Modeling of Semiconductor
Components and Devices |
Dili |
Türkçe |
Türü |
Zorunlu |
Lisansüstü
Türü |
Yüksek Lisans |
Kredisi |
3 |
Yarıyılı |
Güz |
Önkoşulu |
|
Programı |
Elektronik
Mühendisliği |
Anabilim
Dalı |
Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği ABD |
Amacı |
|
Bu derste, bilgisayarla benzetime yönelik olarak temel
elektronik elemanların ve tümdevre yapılarının doğrusal olmayan modelleri,
işlemsel kuvvetlendirici, işlemsel geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi, akım
taşıyıcı ve analog çarpma devresi gibi analog işlem bloklarının
makromodelleri konusundaki eksikliğini gidermek, bu yönde araştırmacı
potansiyelini yükseltmek amaçlanmaktadır. |
|
Türkçe
İçeriği |
|
Modelleme kavramı. Eleman modelleri: Diyot modelleri.
Bipolar tranzistor modelleri: EM (Ebers- Moll) 1 modeli, EM2 modeli, EM3
modeli, Gummel-Poon modeli, SPICE Gummel-Poon modeli, geliştirilmiş EM
modeli. JFET modelleri: SPICE JFET modeli, yüksek doğruluklu JFET modeli.
MOSFET modelleri: SPICE 1. düzey, 2. düzey, 3. düzey, 4. düzey MOS modelleri.
Yüksek doğruluklu MOSFET modeli. Makromodeller: İşlemsel kuvvetlendirici,
Gerilim karşılaştırıcı, İşlemsel geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi (OTA),
akım taşıyıcı, analog çarpma devresi makromodelleri. Güç elektroniği
elemanlarının modellenmesi. Model parametrelerinin ölçülmesi. |
|
İngilizce
İçeriği |
|
Modeling concept. Modeling of the junction diode: Static
and dynamic parameters. SPICE diode model. Modelling of the BJT. Ebers-Moll
equations; EM1 EM2 and EM3 models, Gummel-Poon model, SPICE BJT model.
Modified EM model. JFET models. MOSFET models: SPICE Level-1, Level-2,
Level-3 and Level-4 models, MOSFET models with extended accuracy.
Macromodels: Op-Amp., Comparator, operational transconductance amplifier
(OTA), Current Conveyor, Analog Multiplier Macromodels. Measurement of model
parameters. |
|
Kaynakçası |
|
1.H. Kuntman, Elektronik Elemanların Modellenmesi, İTÜ
Kütüphanesi, Sayı 1600, 1998. |
2009-2010 Eğitim-Öğretim Yılı
Çarşamba, 9:30-12:30, Mustafa Santur Seminer
Odası
Ders projeksiyon cihazı yardımıyla kaynak kitaptan yararlanılarak
yürütülecektir. Kaynaklar listesinde ilk sırada yer alan kitabın öğrencilerin
elinde bulunması, dersin kolayca izlenebilmesi açısından yararlı olacaktır. Bu kitap dersi alan öğrencilere ücretsiz olarak
dağıtılacaktır.
Dersi alacak öğrencilerin SPICE benzetim programını kullanmayı
bilmeleri veya öğrenmeleri gerekmektedir.
MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (Seminer Ödevi, Şuayb
Yener, 2005)
Makromodeller Sunumu
(pdf) (25.11.2009)
Yıliçi Sınavı 2 Aralık 2009 Çarşamba günü
yapılacaktır.
Önemli: Yılsonu ödevleri 26 Ocak 2010 Salı
günü akşamına kadar teslim edilecektir. Otomasyondaki
sınırlama nedeniyle bu sürenin uzatılması mümkün değildir.
Duyurular:
Önemli: Elverişsiz
hava koşulları nedeniyle üniversitemizde eğitim-öğretimin tatil edilmesi
nedeniyle Yılsonu ödevlerinin teslim tarihi 27
Ocak 2009 Çarşamba
akşamına kadar uzatılmıştır. Bu tarih
hiçbir şekilde aşılmayacaktır. Olumsuz
hava koşulları nedeniyle, ödevler elektronik posta ile de gönderilebilir.
Ancak, basılı bir kopyasının 29 Ocak 2009 Cuma sabahı saat 10:00’a kadar mutlaka teslim edilmesi
gerekmektedir.
30 Eylül 2009 günü ABET çalıştayı nedeniyle ders
yapılamayacaktır. Derse kaydolan öğrenciler 30 Eylül 2009 gününden itibaren EEF
Dekan Sekreterine başvurarak imza karşılığı kitaplarını alabilirler.