|
NO
|
Adı, Soyadı
|
Konu
|
|
504041209
|
Gülin Atabey
|
Yüksek seviyeli MOS Modelleri (BSIM)
Kaynak:
- D. P. Foty, MOSFET modeling with SPICE Principles and Practice,
Prentice Hall, 1997.
- W. Lu, MOSFET models for SPICE simulation including BSIM3v3 and
BSIM4, John Wiley & Sons,
New York, 2001.
|
|
504041230
|
Şuayb Yener
|
SPICE MOS model parametrelerinin ölçülmesi I (1., 2 ve 3. düzey
modeller)
Kaynak:
- P. Antognetti, G. Massobrio, Semiconductor device modeling with
SPICE, Mc Graw Hill, 1988.
- D. P. Foty, MOSFET modeling with SPICE Principles and Practice,
Prentice Hall, 1997.
- W. Lu, MOSFET models for SPICE simulation including BSIM3v3 and
BSIM4, John Wiley & Sons,
New York, 2001.
|
|
504041233
|
Fethi
Gür
|
OTA, FTFN ve CCII makromodelleri
Kaynak:
- H. Kuntman: Simple and accurate nonlinear OTA macromodel for
simulation of CMOS OTA-C active filters, International Journal of
Electronics, Vol.77, No.6, pp.993-1006, 1994.
- U. Cam and H. Kuntman, Simple and accurate non-linear macromodel
for four terminal floating nullors (FTFNs) Int. Journal of Electronics,
Vol. 88, No.4, pp 435-447, 2001.
- N. Tarım, B. Yenen, H. Kuntman: Simple and accurate
nonlinear current conveyor macromodel for simulation of active filters
using CCIIs, International Journal of Circuit Theory and Applications,
26, pp.27-38, 1998.
|
|
504041234
|
Halil
İ. Eneç
|
CDBA: Gerilim izleyicili akım farkı kuvvetlendiricisi
ve COA: akım işlemsel kuvvetlendiricisi makromodelleri
Kaynak:
- S. Özoğuz,
H. Kuntman, S. Bodur, C. Acar, Gerilim
izleyicili akım farkı kuvvetlendiricisi (CDBA) için bir makromodel, Bursa Elektrik-Elektronik-Bilgisayar
Müh. Sempozyumu (ELECO 2000), Elektronik ve Bilgisayar Bildiri
Kitabı, 33-37, Bursa, EMO Bursa Şubesi, 8-12 Kasım
2000.
- S. Kılınç,
M. Saygıner, U. Çam and
H. Kuntman, Simple
and accurate macromodel for current operational amplifier (COA), accepted for presentation in
ELECO05: The 4th International
Conference on Electrical
and Electronics Engineering, Bursa, Turkey,
7-11 December 2005.
|
|
504051213
|
Kadir
Özden
|
Analog Çarpma Devresi makromodeli, Güç MOSFETi makromodelleri
Kaynak:
- H. Kuntman and A. Toker, 'Novel nonlinear macromodel suitable for
SPICE simulation of analogue multipliers realised with bipolar and CMOS
technologies', Int. Journal of Circuit Theory and Applications, 27,
pp.485-495, 1999.
- H. Hakan Kuntman: Elektronik Elemanların Modellenmesi ,
(Telif Kitap) , İTÜ Kütüphanesi, Sayı 1600, 1998.
- Cordonnier Ch&
E, SPICE model for TMOS Power
MOSFETs, MOTOROLA Inc.,1989.
- H. Kuntman,
L. Uğural, Güç MOSFET'leri
için SPICE simülasyonunda kullanılmak üzere bilgisayar yardımıyla
makromodel oluşturulması, ELMEKSEM'
97 : Bursa IV. Elektromekanik Sempozyumu
Bildiri Kitabı,62-65, 17-21 Aralık, Bursa, 1997.
|
|
506041404
|
Batu Orbay
|
SPICE MOSFET 3. düzey statik model parametrelerinin belirlenmesi
için algoritmalar
Kaynak:
- M. Yazgı and H. H. Kuntman, A new approach for the extraction of SPICE MOSFET Level-3
static model parameters,
Proceedings of ICES'98: the
5th IEEE International Conference
on Electronics, Circuits
and Systems, Vol1, pp. 505-508, 7-10 September,
Lisboa, Portugal,
1998.
- M. Yazgı, H. Kuntman, A new approach for parameter extraction of complex models and an application for SPICE MOSFET level-3 static model, Microelectronics
Journal, Vol.30,
No.2, pp.149-155, 1999
|
|
@00001206
|
Burhan
Baraklı
|
MOSFETlerde sıcak
taşıyıcı yorulma etkisinin modellenmesi
Kaynak:
- Gürsel Düzenli, Development of MOSFET models
suitable for simulation of analog CMOS circuits after hot-carrier stress (Ph.D. Thesis, supported by ITU-ETA Foundation, Siemens Türk A.Ş. İstanbul Turkey and Siemens AG München/ Germany under research number MW-/Kuntman_J303.0), Istanbul
Technical University,
Institute of Science
and Technology,
2003.
- F. Kaçar, A. Kuntman, H. Kuntman, CMOS yapılarda yorulma ve ömür kestiriminin istatistiksel
olarak incelenmesi, Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Müh. 11. Ulusal
Kongresi Bildiri Kitabı-I, s.55-59, Yıldız Teknik
Üniversitesi-EMO İstanbul Şubesi, 22-25 Eylül, İstanbul,
2005.
- F. Kaçar, A. Kuntman and H. Kuntman, Statistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors,
accepted for presentation in ELECO05: The
4th International Conference
on Electrical and Electronics Engineering,
Bursa, Turkey. 7-11 December
2005.
|